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       自古以來，人們都有一個毛病，非要分出個子丑寅卯，非左即右。在光譜儀檢測行業(yè)，也存在著：檢測器推陳出新，更新?lián)Q代，CCD定能取代PMT，COMS完敗CCD的論調。
       檢測器作為光譜儀的核心部件，其技術的發(fā)展進步往往引領著光譜儀的發(fā)展。電荷耦合元件(CCD)技術的應用是光電直讀光譜儀的一個技術發(fā)展方向，采用CCD將會降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積。其次CCD最大的優(yōu)點是全譜，可以很方便地增加檢測元素的種類。此外，CCD具有良好穩(wěn)定性和較長的使用壽命，CCD型光電直讀光譜儀可以實現(xiàn)激發(fā)樣品時自動完成波長校準，不再需要定期進行校準，采用CCD技術可實現(xiàn)模塊化、易于校準、抗振動。
       小編在幾年前的單位從事檢測工作，當年PMT還是主流，儀器笨大。因為伊始購置儀器的時候對這方面不是很懂，初始只為了檢測鋁基材質，然后隨著工作的深入，需要檢測鐵基的時候，廠家說加費用，要拆機裝通道。“EXCUSE ME？”。
       現(xiàn)在不比當年，運用CCD技術的儀器已然占據(jù)大部分市場。但，CCD又真的能取代PMT的地位么？
       和傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術相比，CCD發(fā)展較晚，作為新型檢測器件，還存在一定的局限性。首先CCD沒法如PMT那樣每個通道都做優(yōu)化。其次，CCD在應用中為了降低暗電流需要降溫，這與光學系統(tǒng)需要恒溫相矛盾。CCD目前還無法應用一些高速采樣技術，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT，其次如何保證多塊CCD的一致性，以及處理多塊CCD之間的接收空白區(qū)，也是一個問題。此外，當前CCD技術已經(jīng)可以滿足中端分析應用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長期精度方面和PMT還是有差距。

       其實很明顯的一個概念，就是實驗室的儀器往往是采購的PMT，普通的廠家CCD就夠了。

CCD和PMT差別

       雖然目前CCD還有一些不足之處，但是大家認為CCD在光電直讀光譜儀中的應用是值得期待的。PMT到現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展60多年了，是一種經(jīng)典成熟的技術。而CCD技術正處于飛速的發(fā)展變化之中，可以預期CMOS(互補金屬氧化物半導體)技術很快會應用于CCD當中，這些技術的不斷發(fā)展會促使CCD發(fā)展到更高的水平。近些年CCD器件發(fā)展已經(jīng)相當成熟，能夠滿足一般的分析要求，針對細分市場，各種特殊用途的CCD不斷產(chǎn)生。CCD與PMT結合是目前解決全譜檢測并滿足微量和痕量分析的最優(yōu)選擇，但同時滿足兩種類型檢測器的采樣控制和系統(tǒng)的完美結合目前仍然是該類儀器的制造難點。
       所以說，CCD和PMT的存在，在目前為止都是合理且必要，而最新的COMS技術也在進入市場。對于客戶來說，就是合理的選擇一款自己合適的儀器，不要人云亦云。
       創(chuàng)想儀器目前的儀器都是以CCD技術為主，COMS技術在籌備，并即將推出上市，敬請期待。